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NIKON尼康干涉測量鏡頭 適合非接觸光學(xué)壓型CF ICEPIPlanTI 詳細摘要: 規(guī)格:干涉測量鏡頭可用在非接觸光學(xué)壓型測量設(shè)備上,通過此鏡頭可得到表面位圖和表面測量參數(shù)等
產(chǎn)品型號: 所在地:北京市 更新時間:2025-11-20 參考價: 面議 在線留言
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北京派迪威儀器有限公司
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詳細摘要: 規(guī)格:干涉測量鏡頭可用在非接觸光學(xué)壓型測量設(shè)備上,通過此鏡頭可得到表面位圖和表面測量參數(shù)等
產(chǎn)品型號: 所在地:北京市 更新時間:2025-11-20 參考價: 面議 在線留言